[пред] [1-10] ... [111-120] [121-130] [131-140] [141-150] [151-160] [161-170] [171-180] [181-190] [191-200] [201-210] [211-217] [след] [показать все]
[2015-09-08] В поисках эталона излучения и его эталонного измерения Предлагаем вашему вниманию статью из журнала Полупроводниковая светотехника №4, 2015, в которой ведущие специалисты ООО НТП ''ТКА'', НИИИС им. А. Н. Лодыгина, ''Архилайт'', ООО ''Интех Инжиниринг'' делятся своим мнением по отмеченным выше обсуждениям в Саранске. Средства тестирования, измерения и поверки (*.pdf) 1.25 Мб |
[2015-08-25] Агрорусь 2015 - фотоотчет Сегодня 25 августа 2015 года в Ленэкспо состоялось официальное открытие выставки-ярмарки... |
[2015-08-18] Осень предлагает встречи Осенью наше предприятие будет принимать участие в следующих выставочных мероприятиях... |
[2015-06-16] Проблемы и перспективы развития отечественной светотехники Материалы XII Всероссийской научно-технической конференции... |
[2015-05-26] День борьбы с меланомой Свою лепту в рост заболеваемости вносит и увлечение соляриями... |
[2015-05-25] Открыт закрытый порт Владивосток Мы расширяем горизонты поставок и инсталляции оборудования... |
[2015-05-22] Фотоотчет с MetrolExpo 2015 Международный инновационный форум и выставка «Точные измерения - основа качества и безопасности»... |
[2015-05-21] Расчет цилиндрической косинусной насадки люксметра Результаты исследований показали, что использование стекла МС-13 толщиной более 2,5 мм и высотой выступающей части над корпусом равной 1,5 мм обеспечивают формирование пространственной характеристики с погрешностью не более 5%... |
[2015-05-20] Поздравляем Вас с Международным днем Метрологии 140 лет с момента подписания Метрической конвенции... |
[2015-05-07] Майские встречи C Днем Великой Победы, товарищи! В мае наше предприятие будет принимать участие в следующих выставочных мероприятиях... |