Посвящается 90-летию Ростандарта и 50-летию ФГУП ВНИИОФИ.

В период с 14 по 17 апреля 2015 года в г. Москва была проведена научно-техническая конференция "Метрологическое обеспечение фотоники"

Тематика конференции:

• Теоретические и экспериментальные методы и средства исследований характеристик некогерентного оптического излучения
• Метрология лазерного излучения
• Новые методы и средства спектрорадиометрии в области экстремального, вакуумного и ближнего ультрафиолета. Метрологическое обеспечение новых перспективных технологий на основе синхротронного излучения
• Теоретические и экспериментальные исследования новых материалов для фотоники, в том числе наноматериалов, с применением оптико-физических методов измерений
• Измерения энергетических, частотно-временных, спектральных и пространственных характеристик излучения в волоконной оптике
• Новые направления в метрологии, основанные на интерференционных и голографических методах, методах оптической томографии и профилометрии трехмерных амплитудных и фазовых объектов, в том числе нанообъектов, рефрактометрии и поляриметрии
• Фотоника в лабораторной медицине и офтальмологии.

В рамках конференции выступили наши сотрудники с итогами последних научных исследований в данном направление.

Предлагаем ознакомиться с тезисами доклада.
В.Н. Кузьмин, А.Л. Марьин "Чем хуже спектральное разрешение прибора, тем лучше".