[2024-04-18]
Термогигрометры эталонные ТКА-ТВ/ЭТАЛОН
далее...



[2022-01-27]
Засветка окон
далее...



[2019-04-27]
Правила поверки и калибровки средств измерений и эталонов, межповерочные сличения
далее...



[2021-03-18]
Определение эксэргии оптического излученияв растениводстве
далее...



[2020-12-29]
Что такое УФ бактерицидная лампа?
далее...



[2017-04-12]
Индекс цветопередачи и светодиоды
далее...



[2019-01-20]
Светодиоды в качестве источников света для выращивания растений
далее...



[2014-08-21]
Меры ограничения слепящего действия и отражённой блёскости в Европейских нормах
далее...



[2022-11-11]
Разъяснения по использованию терминов при измерении ультрафиолетового излучения
далее...



[2015-02-23]
Расход воздуха или производительность по воздуху
далее...



[2014-09-02]
Параметры микроклимата
далее...



[2014-05-07]
Как измерить световой поток
далее...



[2014-04-03]
Измерение яркости
далее...



[2014-04-03]
Измерение освещенности
далее...



[2014-04-03]
Индекс цветопередачи
далее...



[2014-04-03]
Измерение оптических параметров светодиодов
далее...



[2014-03-06]
Измерение светового потока
далее...



[2014-03-05]
Измерение цветовых характеристик: координаты цветности и коррелированная цветовая температура
далее...


Все статьи


Уважаемый, Владимир Николаевич!

Примите наши искренние поздравления по случаю вашего дня рождения и пожелания крепкого здоровья и благополучия.
Пусть Ваша жизнь будет долгой и радостной, пусть поддержка и уважение коллег, любовь и забота близких будут для Вас лучшим источником жизненных сил и оптимизма!
Пусть успех сопутствует Вам во всех благих начинаниях!

Биография юбиляра

   Владимир Николаевич Кузьмин 

   Дата рождения: 28.11.1944 (г. Иваново)

   Учёная степень: доктор технических наук (2008)

   Учёное звание: профессор (2010) кафедра светотехники СПбГУКиТ

   Образование: Кишинёвский государственный университет,
   физико-математический факультет, специальность оптика и спектро­скопия (1971)

   Этапы трудовой деятельности: 

  •    Прошёл путь от инженера–конструктора до заместителя генерального директора по оптике и фотометрии     ООО Научно-техническое предприятие «ТКА».
  •    Работа на кафедре светотехники СПбГУКиТ с 2010 года по 2014 год, с 2015 года на базовой кафедре СПбГУКиТ.
  •    До 2015 года главный метролог ООО Научно-техническое предприятие «ТКА».

Область научных и профессиональных интересов:

  • Разработка и исследование методов и приборов для измерения параметров и характеристик источников оптиче­ского излучения и определения качества изображения в кинематографии и телевидении. Разработка вопросов метрологического обеспечения, сервисного сопровождения разрабатываемой продукции.
  • При его активном участии разрабатывался и был поставлен лабораторный практикум по курсу «Светотехника». Им были разработаны и читаются лекционные курсы по дисциплинам «Приемники и источники света», «Основы светотехники».

Научные труды: более 150 научных трудов и учебные пособия

Сборник методических материалов по метрологическому обеспечению приборов для измерения основных характеристик источников оптического излучения" СПб, Изд. Политехнического ин-та, 2007 г. - 56 с.

Достижения:

«Устройство для измерения коэффициента отражения образцов», Авторское свидетельство №1396009 от 15.01.1988 г.

Исследовательские проекты (НИОКРы):

  • 1995 - Исследование воздействия оптического излучения ультрафиолетового (УФ) и видимого диапазонов на свойства материалов музейных и библиотечных фондов.
  • 2000 - Разработка и создание УФ-радиометра для раздельного измерения облученности в спектральных зонах в соответствии с их физиологическим воздействием на организм человека.
  • 2001 - Создание переносного оптико-электронного прибора для измерения оптических параметров документов на бумаге.
  • 2002 – Разработка кинопроекционного яркомера для использования в киносети.
  • 2003 - Научное, методическое и приборное обеспечение курса Светотехника (для техн. ВУЗов).
  • 2004 - Создание базовой модели автоматизированного микропроцессорного денситометрического устройства.
  • 2005 - Разработка программно-аппаратного комплекса средств оптимизации цветовоспроизведения при переводе изображения в цифровую форму.
  • 2011 - Исследование воздействия оптического излучения на материалы музейных экспонатов для определения требований к измерительным приборам.
  • 2011 - Разработка имитатора различных типов источников излучения.
  • 2013 - Разработка рефлектометра для измерения коэффициента зеркального отражения.
  • 2013 - Комплекс измерения распределения освещённости в пространстве, создаваемого видеоэндоскопом.
  • 2014 - Влияние климатических параметров на сохранность информации, записанной на диски HDD с организа­цией в массив RAID-5.

Научно-организационная деятельность:

  • Учредитель и руководитель ООО Научно-техническое предприятие «ТКА»
  • Читаемые дисциплины: кафедра светотехники СПбГУКиТ: Источники оптического излучения, Приёмники излучения и фотометрические устройства, Расчёт и конструирова­ние фотометрических устройств.

Публикации:

  • Современные приборы для измерения оптического излучения в растениеводстве.// Светотехника, №5, 2000 г.
  • Денситометр для измерения оптической плотности кинофотоматериалов.// Измерительная техника, 2006, №7
  • Измерение светового потока светодиодов.// Светотехника, №3, 2009 г.
  • Приборы для измерения оптических параметров и характеристик светодиодов.//  Полупроводниковая светотехника, №3, 2010
  • Спектроколориметр для контроля качества проецируемого изображения.//Мир техники кино, №15, 2010.
  • Spectrocolorimetr for measuring color characteristics of the sources of optical radiation. (15 International workshop on inorganic and organic electroluminescence and 2010 International conference on the science and technology of emissive displays and lighting and 18 advanced display technologies international symposium).// St. Petersburg State Institute of Technology. 2010
  • Новый тип колориметра для измерения цветовых характеристик источников света.//  Светотехника, №2, 2012.
  • Современные средства измерения параметров оптического.// Lumen, № 3, 2012.
  • Комплексы для оперативного измерения характеристик СИД.// Полупроводниковая светотехника, №1, 2013.

2015-11-27
Все новости
Яндекс.Метрика