Первая Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в нанотехнологиях» состоялась с 22 по 24 апреля 2014 года в городе Москва, конференц-зал гостиницы «Салют».

Конференция проводилась Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии совместно с ФГУП «ВНИИОФИ» при поддержке Минобрнауки, Минпромторга.

Целью конференции были:

    Демонстрация результатов научно-исследовательской деятельности в области метрологического обеспечения нанотехнологий;
    Совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области нанотехнологий;
    Развитие метрологической инфраструктуры нанотехнологий;
    Выявление перспективных проектов развития метрологии в нанотехнологиях, направлений, их продвижение и реализация;
    Развитие инновационных технологий по метрологическому обеспечению в области нанотехнологий;
    Проведение испытаний, поверки, калибровки средств измерений, аттестации методов измерений для метрологического обеспечения нанотехнологий;
    Подготовка кадров в области метрологического обеспечения нанотехнологий.

В рамках конференции выступил с докладом: Кузьмин В.Н.., д.т.н., профессор, заместитель директора по оптике и фотометрии ООО «НТП «ТКА» - «О возможности повышения точности измерения коррелированной цветовой температуры белых светодиодов приборами интегрального типа».

Развитие системы обеспечения единства оптико-физических измерений в сфере нанотехнологий В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, ФГУП «ВНИИОФИ», г. Москва
Высшая школа подготовки кадров в области метрологии средств измерения излучения О. М. Михайлов¹, К. А. Томский, ¹ГУКиТ, г. Санкт-Петербург, OOO «НТП «ТКА», г. Санкт-Петербург
Интегральные измерения цвета нано размерных излучателей Е. В. Марков, О. М. Михайлов, Государственный университет кино и телевидения, г. Санкт-Петербург